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IC CHINA 2006成功举办

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科利登 Sapphire D-10系统荣获《测试与测量世界》杂志“Best in Test Award” 奖项

 上网时间:2006-2-22

    2006年1月10日,来自美国加州苗必达市(Milpitas)的消息:为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商--科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation, 纳斯达克代码:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的”Best in Test award”(译:最佳测试奖)奖项。

    Sapphire D-10是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。Sapphire D-10是一款极紧凑的测试系统,它采用先进科技,集成了更多更好的特性功能。Sapphire D-10的设计充分地考虑了不管是量产测试还是工程验证的不同测试要求。

    《测试与测量世界》主编Rick Nelson说:“2006年度Best in Awards奖项只颁给那些能给测试界带来重大技术革新的新产品。我们的编辑之所以选择科利登的Sapphire D-10做为该奖项的获奖者是因为该款系统综合了高速的数据交换网络,基于FPGA的高度灵活性以及高密度的CMOS集成来提高系统测试各种消费类芯片的产能和效率。“

    科利登系统公司总裁兼首席执行官Dave Ranhoff(中文名:任永浩)说:“我们非常高兴能荣获该奖项。做为一种革新的测试系统设计理念,并结合科利登的先进技术,Sapphire D-10迅速地获得了全世界市场的接受和认可。事实上,该系统首先在北美和亚洲的多个IDM和 OSAT工厂被采用正好证明了它在降低内置MCU,显示驱动控制和无线基带芯片测试成本时的重大成果。“

 

 
 
 
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